在剛剛落幕的第24屆中國國際鑄造博覽會上，創(chuàng)想儀器展示的一款上照式臺式X熒光分析儀成為展臺亮點，獲得了來自全國各地嘉賓的青睞。
這款X熒光分析設備采用了上照式檢測設計，即X射線管位于樣品上方，光束自上而下照射樣品表面。這一看似簡單的結(jié)構(gòu)優(yōu)化，在實際應用中解決了行業(yè)內(nèi)的一個痛點——避免樣品對X射線管的污染。在鑄造及相關材料檢測場景中，待測樣品形態(tài)多樣，粉末樣品容易揚塵，塊狀樣品表面可能附著油污或顆粒物。在傳統(tǒng)下照式儀器中，X射線窗口往往朝向樣品上方，長期使用后窗口表面容易積累灰塵或雜質(zhì)，導致射線強度衰減，需要定期清潔甚至更換窗口，增加了維護工作量。
臺式X熒光分析儀
創(chuàng)想儀器展示的這款上照式儀器則將X射線管置于樣品托盤的上方，樣品被放置在托盤上接受檢測，與射線管之間保持了合適距離。即使粉末樣品在檢測過程中有輕微揚塵，或塊狀樣品表面有碎屑脫落，雜物也會因重力作用下落，不會向上飄移至射線管窗口。這一設計有效延長了窗口及射線管組件的清潔周期，降低了日常維護頻次，尤其適合粉末冶金、合金熔煉等產(chǎn)生粉塵較多的生產(chǎn)現(xiàn)場。
在分析性能方面，該設備并未因結(jié)構(gòu)優(yōu)化而妥協(xié)。它能夠快速檢測鑄造用金屬材料中的多種合金元素及雜質(zhì)含量，涵蓋鐵基、鋁基、銅基、鎳基等常見基體。樣品制備較為簡便，塊狀樣品經(jīng)過簡單打磨即可上機，粉末樣品則可直接放入樣品杯中進行測量。上照式結(jié)構(gòu)還使得樣品更換更加直觀，操作人員可以輕松放置和取出樣品，無需擔心觸碰射線窗口。
為來賓介紹創(chuàng)想儀器產(chǎn)品
展會期間，多位嘉賓在現(xiàn)場觀看了設備演示后，對其在日常維護方面的便利性表示關注。有來賓提到，鑄造車間的檢測環(huán)境相對復雜，設備是否耐臟、易清潔是他們選購時的重要考量因素。創(chuàng)想儀器通過這款上照式X熒光分析儀，為用戶提供了一種可靠的選擇。隨著鑄造行業(yè)對來料檢驗和過程控制要求的提高，這類兼顧分析性能與使用便利性的設備，正在受到越來越多企業(yè)的認可。